Web design by Aleksey D. Zolotarenko | Contact Us

a1.png

Л.И. Копылова
руководитель группы

a2

Т.И. Шапошникова
сотрудник

a3

С.Н. Каверина
сотрудник

a4

Л.А. Цурпал
сотрудник

a5

С.А. Рогозинская
сотрудник

a5

В.П. Залуцкий
сотрудник

Во всяком деле, коль знаешь мало, держись проверенного.

Грасиан-и-Моралее Бальтасар

Идеи воспламеняют друг друга, подобно электрическим искрам.

Энгельс Фридрих/p>

Мы очень мало знаем и плохо учимся: потому и должны мы лгать.

Ницше Фридрих




Физические методы анализа

Для установления рационального контроля за технологическим процессом, связи между атомной структурой и свойствами материала исследователями группы используются методы рентгеноструктурного анализа, растровой и просвечивающей электронной микроскопии, микрозондового анализа, эмиссионной спектроскопии.
Рентгеноструктурный и фазовый анализ дифрактометрическим методом осуществляется на рентгеновском дифрактометре типа «ДРОН» для решения различных прецизионных задач физического материаловедения, обнаружения и диагностики новых структурных и фазовых состояний.
При проведении рентгеноструктурного и фазового анализов используется база данных ASTM, программа качественного фазового анализа, программы расчета периодов кубических (ОЦК, ГЦК), тетрагональных и гексагональных решеток, программа диагностики и устранения систематических погреш-ностей измерения межплоскостных расстояний.
Для проведения электронномикроскопических исследований используется растровый электронный микроскоп "Стереоскан С4-10" с рентгеноспектральной приставкой полуколичественного анализа "Link System-290", с помощью которого можно изучать фазо- и структурообразование на шлифах и изломах образцов до и после различных испытаний, определять характер разрушения (интер- и транскристаллитное), исследовать границы зерен, миграцию микротрещин, распределение примесей и многое другое.
Рентгеноспектральная приставка позволяет определять состав (атомный номер Z>10) со всей исследуемой поверхности или в точке с локальностью до 5мкм и распределение элементов по поверхности образца в избранном рентгеновском излучении.
Микроснимки распределений всех представляющих интерес элементов в пределах области сканирования могут быть совмещены для получения полной информации о распределении элементов. Могут быть идентифицированы все элементы с атомным номером от 11 и выше. Методом электронного зонда могут быть определены одновременно несколько элементов, таким образом можно исследовать распределение различных компонентов в материале с микронным разрешением.


Электронный просвечивающий микроскоп

При изучении углеродных наноструктурных материалов, которые синтезируются в различных группах лаборатории, особенно важное место отводится физическим и физикохимическим методам анализа. Только проведя анализ с помощью электронного (ПЭМ и СЭМ) микроскопа можно проводить их исследование другими методами и переходить к изучению их физических и химических свойств.
Просвечивающая электронная микроскопия является методом прямого исследования тонкой структуры внутренних границ раздела структурной и химической неоднородности и электроннографического анализа широкого класса материалов. Исследования проводятся с помощью электронного микроскопа JEM-100CX. Микроскоп имеет растровую приставку (разрешение в растровом режиме 3 нм) и рентгеновский микроанализатор. Разрешение в просвечивающем режиме 2 A.


Рентгеновский дифрактометр

Метод эмиссионной спектроскопии позволяет исследовать как компактные металлические материалы, так и порошковые на основе угольного порошка. Метод позволяет определять качественный и количественный состав образцов с помощью спектрографа средней дисперсности ИСП-28 и источника возбуждения спектрадуги постоянного тока.
В лаборатории изучаются структуры, определяются параметры решеток гидридов интерметаллических сплавов типа АВ, АВ2, АВ5 и фуллеренов с целью объяснения и прогнозирования их водородсорбционных свойств, изучения процессов фазообразования и особенностей фазовых превращений при различных температурах и давлениях.
Кроме штатных сотрудников лаборатории, неоценимую помощь в аттестации образцов и их исследовании с помощью физических методов анализа в течение многих лет оказывают нам сотрудники отдела Сергея Алексеевича Фирстова: Вадим Михайлович Адеев, Александр Юрьевич Коваль и Андрей Владимирович Котко.


Электронный сканирующий микроскоп

Весьма эффективным методом неразрушающего контроля и изучения поверхности различных материалов является метод электронной ОЖЕ-спектроскопии, в основе которого лежит измерение энергии и количества оже-электронов, образующихся при бомбардировке поверхности твердых тел пучком электронов.
Высокая чувствительность электронной ОЖЕ-спектроскопии к состоянию поверхности позволяет определять химический состав тонких (порядка 2-3 монослоя) пленок, надежно регистрируя любой химический элемент, кроме водорода.
Исследования проводятся на ОЖЕ-спектрометре JAMP10S фирмы JEOL (Япония), укомплектованном встроенной ионной пушкой AP-IED2, позволяющей проводить послойный анализ.
Некоторые образцы приходится исследовать в других институтах НАН Украины или в зарубежных лабораториях.